波长色散X射线荧光光谱法测定纯金中金
来源期刊：理化检验-化学分册2003年第11期
论文作者：叶晓珉 方名戌 吴奕阳
关键词：波长色散X射线荧光光谱法; 背景修正; 吸收-增强效应; Lachance-Trill浓度校正模式; 纯金;
摘 要：应用波长色散X射线荧光光谱法(WDXRF)对纯金(金含量为98.00%～99.95%)中金含量进行定量分析.利用国家标准物质和自行研制的工作标样建立校准曲线,采用Lachance-Trill浓度校正模式消除吸收-增强效应;进行背景修正以提高测低浓度组分的准确度.对样品的测试结果与其它方法结果比较,证明此法可行.金含量在98.00%～99.95%范围内,分析结果与其他方法结果的偏差绝对值均小于0.10%.
叶晓珉1，方名戌1，吴奕阳1
(1.上海市计量测试技术研究院,上海,200233)
摘要:应用波长色散X射线荧光光谱法(WDXRF)对纯金(金含量为98.00%～99.95%)中金含量进行定量分析.利用国家标准物质和自行研制的工作标样建立校准曲线,采用Lachance-Trill浓度校正模式消除吸收-增强效应;进行背景修正以提高测低浓度组分的准确度.对样品的测试结果与其它方法结果比较,证明此法可行.金含量在98.00%～99.95%范围内,分析结果与其他方法结果的偏差绝对值均小于0.10%.
关键词:波长色散X射线荧光光谱法; 背景修正; 吸收-增强效应; Lachance-Trill浓度校正模式; 纯金;
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