X射线荧光分析技术在钼矿山的应用
来源期刊：中国钼业1998年第2期
论文作者：杨森林
文章页码：3 - 5
关键词：钼矿;X射线荧光仪;
摘 要：论述了用同位素源Ｘ射线荧光法测量栾川钼矿的研究和结果，提出了用“特散比”法校正Ｘ射线荧光分析中的基体效应。对粉末样进行了研究，经验证，粉样合格率达８０％。
杨森林
洛阳栾川钼业公司工程公司
摘 要：论述了用同位素源Ｘ射线荧光法测量栾川钼矿的研究和结果，提出了用“特散比”法校正Ｘ射线荧光分析中的基体效应。对粉末样进行了研究，经验证，粉样合格率达８０％。
关键词：钼矿;X射线荧光仪;
