PMSZT压电陶瓷的烧结工艺研究
来源期刊：功能材料2005年第6期
论文作者：孙清池 陆翠敏 徐明霞
关键词：PMSZT压电陶瓷; 保温时间; 相组成; 显微结构; 电性能; PMSZT piezoelectric ceramics; soaking time; crystallographic phase; microstructure; electric-properties;
摘 要：研究保温时间对PMSZT压电陶瓷的相组成、显微结构及电性能的影响.结果发现,烧结温度1240℃保温1h时,密度达极值7.83g/cm3.保温1h的试样,晶粒致密均匀,居里温度最低.随着保温时间的缩短或延长,居里温度增加.电性能在保温1h时达最佳,εT33/e0=1700,d33=336pC/N,Kp=0.655,Qm=2200,tgδ=0.0030.
孙清池1，陆翠敏1，徐明霞1
(1.天津大学,材料科学与工程学院,天津,300072)
摘要:研究保温时间对PMSZT压电陶瓷的相组成、显微结构及电性能的影响.结果发现,烧结温度1240℃保温1h时,密度达极值7.83g/cm3.保温1h的试样,晶粒致密均匀,居里温度最低.随着保温时间的缩短或延长,居里温度增加.电性能在保温1h时达最佳,εT33/e0=1700,d33=336pC/N,Kp=0.655,Qm=2200,tgδ=0.0030.
关键词:PMSZT压电陶瓷; 保温时间; 相组成; 显微结构; 电性能; PMSZT piezoelectric ceramics; soaking time; crystallographic phase; microstructure; electric-properties;
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