RE对(Gd1-xREx)5Si4合金晶体结构及居里温度的影响
来源期刊：稀有金属材料与工程2006年第2期
论文作者：冯再 郭立君 吴卫
关键词：磁制冷材料; 晶体结构; 居里温度; 磁化强度; 晶格常数;
摘 要：用真空电弧熔炼制备(Gd1-xDyx)5Si4 (x=0.1,0.2,0.3,0.35)和(Gd1-xHox)5Si4(x=0.05,0.15,0.25)系列合金,在950℃下168 h的真空热处理后,对其晶体结构、居里温度进行了研究.室温XRD分析发现该系列合金仍保持Gd5Si4的Sm5Ge4正交型结构,采用Rietveld法分析计算发现合金晶格常数随着x量的增加而逐渐减小.试样M-T磁化曲线测量结果表明:居里温度Tc在336 K～260 K连续可调,改变RE的含量可以得到不同的居里温度Tc;Tc近似呈线性变化,由此得出估计(Gd1-xREx)5Si4(RE=Dy,Ho)的Tc的计算公式.
冯再1，郭立君1，吴卫1
(1.西华大学材料科学与工程学院,四川,成都,610039)
摘要:用真空电弧熔炼制备(Gd1-xDyx)5Si4 (x=0.1,0.2,0.3,0.35)和(Gd1-xHox)5Si4(x=0.05,0.15,0.25)系列合金,在950℃下168 h的真空热处理后,对其晶体结构、居里温度进行了研究.室温XRD分析发现该系列合金仍保持Gd5Si4的Sm5Ge4正交型结构,采用Rietveld法分析计算发现合金晶格常数随着x量的增加而逐渐减小.试样M-T磁化曲线测量结果表明:居里温度Tc在336 K～260 K连续可调,改变RE的含量可以得到不同的居里温度Tc;Tc近似呈线性变化,由此得出估计(Gd1-xREx)5Si4(RE=Dy,Ho)的Tc的计算公式.
关键词:磁制冷材料; 晶体结构; 居里温度; 磁化强度; 晶格常数;
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