AlN微粉表面结合状态的XPS研究
来源期刊:耐火材料2001年第4期
论文作者:李友胜 李凝芳
关键词:AlN微粉; X射线光电子能谱(XPS); 表面结合状态;
摘 要:通过X射线光电子能谱(XPS)分析研究了碳热还原氮化法制备的AlN微粉的表面结合状态.结果表明:AIN微粉的表面有明显的氧化层存在;AlN微粉表面结合状态为Al-O和Al-N复合型结合;杂质元素W主要是由球磨介质中的WC引入的,并以WO42-形式分布于AlN微粉表面.
李友胜1,李凝芳2
(1.武汉科技大学;
2.武汉理工大学)
摘要:通过X射线光电子能谱(XPS)分析研究了碳热还原氮化法制备的AlN微粉的表面结合状态.结果表明:AIN微粉的表面有明显的氧化层存在;AlN微粉表面结合状态为Al-O和Al-N复合型结合;杂质元素W主要是由球磨介质中的WC引入的,并以WO42-形式分布于AlN微粉表面.
关键词:AlN微粉; X射线光电子能谱(XPS); 表面结合状态;
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