X射线衍射法测定圆棒表面残余应力的影响因素
来源期刊：理化检验物理分册2017年第7期
论文作者：王晓宇 任丽萍 徐星泓 吉静 吴益文
文章页码：470 - 996
关键词：圆棒;表面残余应力;X射线衍射;影响因素;
摘 要：采用X射线衍射法测定了圆棒表面的残余应力,讨论了检测方法、检测设备状态、试样状态等因素对检测结果的影响。结果表明:在表面残余应力测定过程中,应在检测设备稳定工作的前提下,根据材料类型和晶体结构来选择检测参数,考虑试样的割取与保护对检测结果的影响;对于组织状态复杂的材料,可适当增加摆动角来提高检测精度。
王晓宇1，任丽萍2，徐星泓2，吉静2，吴益文1,2
1. 上海大学材料科学与工程学院2. 上海出入境检验检疫局
摘 要：采用X射线衍射法测定了圆棒表面的残余应力,讨论了检测方法、检测设备状态、试样状态等因素对检测结果的影响。结果表明:在表面残余应力测定过程中,应在检测设备稳定工作的前提下,根据材料类型和晶体结构来选择检测参数,考虑试样的割取与保护对检测结果的影响;对于组织状态复杂的材料,可适当增加摆动角来提高检测精度。
关键词：圆棒;表面残余应力;X射线衍射;影响因素;
