全谱直流电弧发射光谱法同时测定钼样品中17种杂质元素

吴冬梅^1,2，赵燕秋^1,2，付国余^1,2，曲红静^1,2

1. 北京北分瑞利分析仪器(集团)有限责任公司2. 北京市物质成分分析仪器工程技术研究中心北京市企业技术中心

摘 要：为了解决现有测定方法中样品前处理复杂、测定过程繁琐的问题,研究了直流电弧发射光谱法测定钼样品中Al、Bi、Ca、Cd、Co、Cr、Cu、Fe、Mg、Mn、Ni、Pb、Sb、Si、Sn、Ti、V等17种元素的方法。用石墨粉(98%)、碳酸钠(1%)和氟化钠(1%)作为光谱缓冲剂抑制基体元素蒸发、稳定弧焰、促进杂质元素的蒸发;采用样品装满电极后下压2mm和滴加蔗糖乙醇水溶液(2%)的方式,防止喷溅的发生,稳定激发过程,减小基体干扰;对挥发难易程度不同的元素采用信号分段采集的方式,提高各元素信噪比。方法灵敏度高、分析速度快、操作简便,加标回收率为85%～120%,各元素分析精密度均小于15%。

关键词：直流电弧发射光谱法;钼;光谱缓冲剂;分段采集;