U-Ti合金的奥氏体晶粒度检测技术

来源期刊：理化检验物理分册2013年第4期

论文作者：唐县娥 陈向林 申亮 张丽 徐云生

文章页码：229 - 232

关键词：U-Ti合金;奥氏体晶粒度;晶界析出敏化法;截距法;面积法;

摘    要：探索了淬火态U-Ti合金的奥氏体晶界显示方法,并依据GB/T 6394—2002和GB/T21865—2008,利用光学金相图像分析仪测定了典型制备工艺下U-Ti合金的平均奥氏体晶粒度。结果表明:采用先将U-Ti合金在500℃保温1h进行晶界析出敏化处理,再使用体积分数为95%的磷酸溶液可以清晰完整地显示U-Ti合金的奥氏体晶界;平均晶粒面积法和截线法测得的U-Ti合金的晶粒度级别指数近似;以截线法作为仲裁法,典型制备工艺下U-Ti合金的奥氏体晶粒度级别指数为2.84±0.16,平均截距为（119.74±6.97）μm。