含非晶相样品的X射线衍射快速定量分析

宋飞^1,2，韩辉²，秦宏钢³，胡凯¹，彭美勋¹，刘欢¹

1. 湖南科技大学材料科学与工程学院2. 天津水泥工业设计研究院有限公司3. 中铁三局集团有限公司

摘 要：基于K值拟合或里特沃尔德(Rietveld)精修,通过X射线衍射(XRD)对已知组成的样品进行了快速定量分析,探讨了非晶相或结晶度不高的物质对衍射图谱的影响,对比了K值拟合和Rietveld精修定量分析的优劣,阐明常见Rietveld精修软件(TOPAS,JADE,GSAS)定量分析的特点.结果表明:结晶度较低的物质能否被XRD检出,不仅取决于其含量,也和共存晶相的衍射能力有关;当样品中非晶相含量较高,且内标物掺量合适,则可通过XRD快速定量分析出非晶相含量; 3种Rietveld精修软件均可对物相组成复杂的样品进行较好的快速定量分析,而K值拟合定量误差较大; TOPAS,JADE界面友好,容易熟练掌握,GSAS操作相对复杂,需要较强的理论基础.

关键词：X射线衍射;里特沃尔德;K值;定量分析;非晶相;