钨精矿中钨和锡的X射线荧光光谱测定
来源期刊:云南冶金1984年第2期
论文作者:杨京春 李有义
文章页码:48 - 51
摘 要:<正> 在X射线荧光光谱分析中,如何克服基体效应,即吸收-增强效应,是一个十分重要的问题。目前克服基体效应有各种各样的方法,如内标法、溶液法、薄膜法、基体稀释法、数学校正法等。这些方法,各有利弊,但不论哪种方法,均需用标样进
杨京春,李有义
摘 要:<正> 在X射线荧光光谱分析中,如何克服基体效应,即吸收-增强效应,是一个十分重要的问题。目前克服基体效应有各种各样的方法,如内标法、溶液法、薄膜法、基体稀释法、数学校正法等。这些方法,各有利弊,但不论哪种方法,均需用标样进
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