能量色散X-射线荧光光谱法测定钼精矿中钼、铁、铅、铜、二氧化硅、氧化钙
来源期刊：冶金分析2006年第6期
论文作者：田文辉 张晓蒲 杨登峰
关键词：能量色散X-射法荧光光谱法; 钼精矿; 成分分析;
摘 要：采用硼酸镶边垫底,粉末压片法制样,用标准样品建立工作曲线,能量色散X-射线荧光光谱法同时测定了钼精矿中钼、铁、铅、铜、二氧化硅、氧化钙的含量.讨论了样品粒度、压片机压力对测定结果的影响;选择了合适的激发条件;采用经验系数法解决了元素间的相互干扰.测定结果与国家标准方法的测定值相符,相对标准偏差在0.28%～6.74%之间.可满足日常分析工作需要.
田文辉1，张晓蒲1，杨登峰1
(1.金堆城钼业集团有限公司,陕西渭南,714000)
摘要:采用硼酸镶边垫底,粉末压片法制样,用标准样品建立工作曲线,能量色散X-射线荧光光谱法同时测定了钼精矿中钼、铁、铅、铜、二氧化硅、氧化钙的含量.讨论了样品粒度、压片机压力对测定结果的影响;选择了合适的激发条件;采用经验系数法解决了元素间的相互干扰.测定结果与国家标准方法的测定值相符,相对标准偏差在0.28%～6.74%之间.可满足日常分析工作需要.
关键词:能量色散X-射法荧光光谱法; 钼精矿; 成分分析;
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