X射线小角散射法测量纳米粉末的粒度分布
来源期刊：粉末冶金技术2004年第1期
论文作者：曾美琴 王辉
关键词：X射线小角散射; 纳米粉末; 粒度分布;
摘 要：在常规高分辨X射线衍射仪上应用小角散射法测量了ZnO、 ZrO2、 Fe和Al2O3纳米粉末的粒度分布.测量结果与专用X射线小角散射仪器的测量结果一致,并经TEM分析验证.证明在常规高分辨X射线衍射仪上应用小角散射法测量纳米粉末的粒度是可行的.与采用四狭缝系统或Kratky狭缝系统的专用小角散射仪相比,该方法的特点是操作简单,成本较低,易于推广.目前此法可测量1～300nm范围的粉末粒度.
曾美琴1，王辉1
(1.华南理工大学机械工程学院,广州,510640)
摘要:在常规高分辨X射线衍射仪上应用小角散射法测量了ZnO、 ZrO2、 Fe和Al2O3纳米粉末的粒度分布.测量结果与专用X射线小角散射仪器的测量结果一致,并经TEM分析验证.证明在常规高分辨X射线衍射仪上应用小角散射法测量纳米粉末的粒度是可行的.与采用四狭缝系统或Kratky狭缝系统的专用小角散射仪相比,该方法的特点是操作简单,成本较低,易于推广.目前此法可测量1～300nm范围的粉末粒度.
关键词:X射线小角散射; 纳米粉末; 粒度分布;
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