简介概要

X射线荧光光谱在晶体材料组成分析中的应用

来源期刊:无机材料学报2003年第1期

论文作者:申如香 陶光仪 吉昂 盛成 卓尚军

关键词:X射线荧光光谱; 晶体; 定量分析; 测量不确定度;

摘    要:介绍了X射线荧光光谱在人工晶体材料组成分析中的应用.虽然X射线荧光光谱分析是一种非常有效的元素分析手段,但必须针对不同的样品和分析要求采用合适的样品制备方法,选择或配制合适的校正标样对基体效应进行校正.在样品为单晶时异常反射对光谱的定性解释和定量分析的条件选择可能产生影响,此时最好使用熔融制样法.使用测量结果时,应该充分考虑其不确定度.



详情信息展示

X射线荧光光谱在晶体材料组成分析中的应用

申如香1,陶光仪1,吉昂1,盛成1,卓尚军1

(1.中国科学院上海硅酸盐研究所,上海,200050)

摘要:介绍了X射线荧光光谱在人工晶体材料组成分析中的应用.虽然X射线荧光光谱分析是一种非常有效的元素分析手段,但必须针对不同的样品和分析要求采用合适的样品制备方法,选择或配制合适的校正标样对基体效应进行校正.在样品为单晶时异常反射对光谱的定性解释和定量分析的条件选择可能产生影响,此时最好使用熔融制样法.使用测量结果时,应该充分考虑其不确定度.

关键词:X射线荧光光谱; 晶体; 定量分析; 测量不确定度;

【全文内容正在添加中】

<上一页 1 下一页 >

有色金属在线官网  |   会议  |   在线投稿  |   购买纸书  |   科技图书馆

中南大学出版社 主办 版权声明   电话:0731-88830515 88830516   传真:0731-88710482   Email:administrator@cnnmol.com

互联网出版许可证:新出网证(湘)字005号   湘ICP备09001153号