利用发射光谱测定高纯二硫化钼中的硅
来源期刊：中国钼业2002年第4期
论文作者：赵昱 李广济
关键词：硅;高纯二硫化钼;发射光谱;
摘 要：用碱熔融法浸出二硫化钼中的微量硅 ,采用发射光谱技术进行测定 ,方法简便快速。准确度和精密度可满足高纯二硫化钼产品中微量硅的测定要求。
赵昱，李广济
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