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X射线荧光光谱法测定平炉渣中主成分

来源期刊:理化检验-化学分册2006年第9期

论文作者:章晓民 田一光 张乔

关键词:X射线荧光光谱; 平炉渣; 粉末压片;

摘    要:使用3080E3型X射线荧光光谱仪,采用粉末直接压片制样,研磨克服粉末样品的粒度效应,理论a系数法校正基体效应的方法,建立了平炉渣样品中TFe、SiO2、MgO、Al2O3、CaO、MnO、TiO2、P2O5组分的快速测定方法.研究了制样条件,用内控标样作标准曲线,分析结果的相对标准偏差为0.23%~3.17%,满足日常分析的要求.



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X射线荧光光谱法测定平炉渣中主成分

章晓民1,田一光2,张乔2

(1.东北大学,分析化验中心,沈阳,110004;
2.温州师范学院,分析测试中心,温州,325027)

摘要:使用3080E3型X射线荧光光谱仪,采用粉末直接压片制样,研磨克服粉末样品的粒度效应,理论a系数法校正基体效应的方法,建立了平炉渣样品中TFe、SiO2、MgO、Al2O3、CaO、MnO、TiO2、P2O5组分的快速测定方法.研究了制样条件,用内控标样作标准曲线,分析结果的相对标准偏差为0.23%~3.17%,满足日常分析的要求.

关键词:X射线荧光光谱; 平炉渣; 粉末压片;

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