X射线荧光光谱法测定废塑料表面涂层中8种元素的含量

来源期刊：理化检验-化学分册2016年第1期

论文作者：黄世杰 张建波 应海松 蔡曹盛 李雪莲

文章页码：33 - 36

关键词：X射线荧光光谱法;元素;涂层;废塑料;

摘    要：采用X射线荧光光谱法测定废塑料表面涂层中8种元素的含量。考察了样品杯、基材以及金属涂层中元素效应对检测结果的影响。P、Si、Fe、Pb、Al、Cu、Cr和Ni的测定范围在0.002%⁵2.0%之间,检出限在0.000 2%⁰.000 8%之间。采用本方法测定废塑料样品表面涂层中元素含量,结果与ICP-AES测定结果一致,测定值的相对标准偏差（n=7）小于1%。