用新式X射线荧光(XRF)分析法进行过程控制
来源期刊：现代矿业1998年第23期
论文作者：S.尤利格 许孙曲
文章页码：17 - 19
摘 要：XRF分析是一种物理法,它可直接分析固态、粉状或液态样品中的几乎整个周期表中的所有元素。借助X射线光谱仪可直接分析低至几ppm的低浓度样品和达到100%的极高浓度样品,而无需任何稀释过程。因此,XRF分析是一种用途广泛的分析方法,由于样品制备简单,测量时间短,分析可靠,再现性高且可全自动化,此法已被广泛采用,并且在矿物和矿石工业加工的过程控制和质量控制中的多元素分析领域,已有很多用户。
S.尤利格，许孙曲
摘 要：XRF分析是一种物理法,它可直接分析固态、粉状或液态样品中的几乎整个周期表中的所有元素。借助X射线光谱仪可直接分析低至几ppm的低浓度样品和达到100%的极高浓度样品,而无需任何稀释过程。因此,XRF分析是一种用途广泛的分析方法,由于样品制备简单,测量时间短,分析可靠,再现性高且可全自动化,此法已被广泛采用,并且在矿物和矿石工业加工的过程控制和质量控制中的多元素分析领域,已有很多用户。
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