X射线荧光光谱仪漂移的校正方法
来源期刊：冶金分析2004年第5期
论文作者：刘洪涛 朱纪夏
摘 要： 漂移是测量仪器计量特性在规定的测量条件下随时间的慢变化.由于仪器在长期的使用过程中,各种条件和因素都可能发生变化,因而会发生"漂移现象".在X射线荧光分析中,同一样品的某一分析元素的荧光强度受诸多因素的影响,使荧光强度与浓度之间的线性关系发生变化,影响分析结果的准确度和精密度,这就是X射线荧光仪的漂移.产生漂移的主要原因有负载电源的波动、整机性能的变化、维护维修等.消除漂移的方法就是采用标准化测量来校正.
刘洪涛1，朱纪夏1
(1.山东莱芜钢铁股份公司品质保证部,山东,莱芜,271104)
摘要: 漂移是测量仪器计量特性在规定的测量条件下随时间的慢变化.由于仪器在长期的使用过程中,各种条件和因素都可能发生变化,因而会发生"漂移现象".在X射线荧光分析中,同一样品的某一分析元素的荧光强度受诸多因素的影响,使荧光强度与浓度之间的线性关系发生变化,影响分析结果的准确度和精密度,这就是X射线荧光仪的漂移.产生漂移的主要原因有负载电源的波动、整机性能的变化、维护维修等.消除漂移的方法就是采用标准化测量来校正.
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