X射线荧光光谱法快速测定FeSiB非晶合金薄带中硅、硼、铁

来源期刊：中国无机分析化学2015年第4期

论文作者：王瑶 李艳萍 冯圣雅 李健靓

文章页码：56 - 59

关键词：X射线荧光光谱法(XRF);FeSiB非晶合金薄带;FeSiB合金;单点法;

摘    要：提出了以自制的标准样品,采用单点法绘制校准曲线,利用X射线荧光光谱仪测定FeSiB非晶薄带样品中硅、硼和铁的含量。对于4个FeSiB非晶合金薄带样品中硅、硼和铁进行了10次测定,其分析结果的相对标准偏差分别为0.4%⁰.5%、1.3%⁴.2%和0.2%⁰.4%。方法的分析结果与火花源原子发射光谱法、化学重量法和电感耦合等离子体原子发射光谱（ICP-AES）法的测定值吻合较好。方法快速、简便,薄带样品无需制样,适用于FeSiB非晶合金薄带的快速成分分析。