简介概要

光辐射悬浮区熔法Tb2PdSi3单晶生长及磁性能

来源期刊:材料热处理学报2014年第4期

论文作者:徐义库 刘林 张军 FRONTZEK Matthias

文章页码:13 - 17

关键词:悬浮区熔;单晶生长;稀土化合物;磁性能;

摘    要:采用光辐射加热悬浮区熔法以3 mm/h的生长速度成功制备了Tb2PdSi3单晶。通过分析得知,该化合物为同成分熔融化合物,熔点约为1700℃。和其它R2PdSi3型化合物(R为稀土元素)不同,在单晶基体中没有发现TbSi沉淀,分析原因可能是因为晶体中Tb含量略高于化学计量比。采用X射线Laue背散射实验对晶体的晶格结构和高完整性进行了验证,并对定向单晶的a和c方向磁化率-温度曲线进行了测定。

详情信息展示

光辐射悬浮区熔法Tb2PdSi3单晶生长及磁性能

徐义库1,刘林2,张军2,FRONTZEK Matthias4

1. 长安大学材料科学与工程学院2. 西北工业大学凝固技术国家重点实验室4. 德累斯顿工业大学固态物理所

摘 要:采用光辐射加热悬浮区熔法以3 mm/h的生长速度成功制备了Tb2PdSi3单晶。通过分析得知,该化合物为同成分熔融化合物,熔点约为1700℃。和其它R2PdSi3型化合物(R为稀土元素)不同,在单晶基体中没有发现TbSi沉淀,分析原因可能是因为晶体中Tb含量略高于化学计量比。采用X射线Laue背散射实验对晶体的晶格结构和高完整性进行了验证,并对定向单晶的a和c方向磁化率-温度曲线进行了测定。

关键词:悬浮区熔;单晶生长;稀土化合物;磁性能;

<上一页 1 下一页 >

有色金属在线官网  |   会议  |   在线投稿  |   购买纸书  |   科技图书馆

中南大学出版社 技术支持 版权声明   电话:0731-88830515 88830516   传真:0731-88710482   Email:administrator@cnnmol.com

互联网出版许可证:(署)网出证(京)字第342号   京ICP备17050991号-6      京公网安备11010802042557号