耐电晕聚酰亚胺薄膜的可靠性研究
来源期刊：绝缘材料2006年第3期
论文作者：王峰 李鸿岩 刘斌 陈寿田 张波涛
关键词：威布尔分布; 耐电晕; 可靠性;
摘 要：为了评价聚酰亚胺/纳米TiO2复合薄膜的耐电晕寿命,对自制的聚酰亚胺/纳米TiO2薄膜进行加速寿命试验,并对得到的实验结果用两参数Weibull分布解析法计算,得出了该薄膜在(15±3)℃,770 V、20 kHz的脉冲电压条件下的累积失效概率方程和可靠度方程等可靠性参数.Weibull假设检验结果表明,所得试验结果服从Weibull分布.
王峰1，李鸿岩1，刘斌1，陈寿田1，张波涛1
(1.西安交通大学电力设备电气绝缘国家重点实验室,陕西,西安,710049)
摘要:为了评价聚酰亚胺/纳米TiO2复合薄膜的耐电晕寿命,对自制的聚酰亚胺/纳米TiO2薄膜进行加速寿命试验,并对得到的实验结果用两参数Weibull分布解析法计算,得出了该薄膜在(15±3)℃,770 V、20 kHz的脉冲电压条件下的累积失效概率方程和可靠度方程等可靠性参数.Weibull假设检验结果表明,所得试验结果服从Weibull分布.
关键词:威布尔分布; 耐电晕; 可靠性;
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