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热生长陶瓷薄膜在压应力作用下的脱落行为

来源期刊:稀有金属材料与工程2009年增刊第2期

论文作者:齐育红 张宗宝

关键词:热生长陶瓷薄膜; 脱落; 表面压痕技术; CCD监测技术; thermally grown oxide ceramic film; spallation; surface impression technique; CCD monitoring technique;

摘    要:采用表面压痕技术和CCD监测技术研究了PM2000 Fe-Cr-Al高温合金热生长氧化物陶瓷薄膜在压应力作用下的脱落行为.结果表明,表面压痕法产生的压痕周围裂纹区域面积和裂纹宽度可定性表征氧化物陶瓷薄膜附着能力,裂纹区域面积越大或裂纹越宽薄膜附着能力越差;采用CCD摄像技术可以测得氧化物陶瓷薄膜初试脱落温度及脱落区域的形貌、位置、面积等数据.为进一步理解氧化物陶瓷薄膜的脱落机制提供了更多的信息.

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热生长陶瓷薄膜在压应力作用下的脱落行为

齐育红1,张宗宝1

(1.大连海事大学,辽宁,大连,116026)

摘要:采用表面压痕技术和CCD监测技术研究了PM2000 Fe-Cr-Al高温合金热生长氧化物陶瓷薄膜在压应力作用下的脱落行为.结果表明,表面压痕法产生的压痕周围裂纹区域面积和裂纹宽度可定性表征氧化物陶瓷薄膜附着能力,裂纹区域面积越大或裂纹越宽薄膜附着能力越差;采用CCD摄像技术可以测得氧化物陶瓷薄膜初试脱落温度及脱落区域的形貌、位置、面积等数据.为进一步理解氧化物陶瓷薄膜的脱落机制提供了更多的信息.

关键词:热生长陶瓷薄膜; 脱落; 表面压痕技术; CCD监测技术; thermally grown oxide ceramic film; spallation; surface impression technique; CCD monitoring technique;

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