直接压片X-射线荧光光谱法在赤泥分析中的应用

来源期刊：分析试验室2004年第4期

论文作者：罗湘宁 周开雄 吴志华

文章页码：60 - 63

关键词：X-射线荧光光谱;直接压片;赤泥;元素分析;

摘    要：对采用直接压片X射线荧光光谱法测定氧化铝生产中赤泥的各元素含量进行了研究。采用TL+数学模型校正,测定范围分别为Al2O3:10.00%～36 50%,SiO2:4.50%～10.50%,Fe2O3:25.00%～45.00%,CaO:12.50%～26 50%,Na2O:1.00%～5.00%,测定结果的RSD分别为0 22%、0.19%、0 38%、0.16%、0 33%,可用于控制分析。