Nafion修饰玻碳电极伏安法测定痕量铟
来源期刊：分析试验室2006年第2期
论文作者：向翠丽 费锡明 李俊华 邹勇进
文章页码：19 - 21
关键词：Nafion修饰电极;伏安法;铟;
摘 要：报道了一种用Nafion修饰玻碳电极测定痕量铟的新方法。研究了Na-fion膜的有关特性和测定的条件,当富集时间为5 min时,峰电流与In（Ⅲ）浓度在1×10-91×10-7mol/L的范围呈良好的线性关系,检出限为1.46×10-10mol/L。该法用于实际水样中痕量铟的测定,平均回收率为98.4%。
向翠丽，费锡明，李俊华，邹勇进
摘 要：报道了一种用Nafion修饰玻碳电极测定痕量铟的新方法。研究了Na-fion膜的有关特性和测定的条件,当富集时间为5 min时,峰电流与In（Ⅲ）浓度在1×10-91×10-7mol/L的范围呈良好的线性关系,检出限为1.46×10-10mol/L。该法用于实际水样中痕量铟的测定,平均回收率为98.4%。
关键词：Nafion修饰电极;伏安法;铟;
