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JY Ultima2 ICP-OES光谱仪测定Ta-2.5W和Ta-10W中钨元素的分析方法研究

来源期刊：材料开发与应用2019年第3期

论文作者：郝文婷

文章页码：38 - 40

关键词：发射光谱法;钨;钽钨合金;

摘要：采用发射光谱仪建立发射光谱法测定Ta-2.5W和Ta-10W中钨含量的方法。使用高纯氢氧化钽基体的纯钨标准溶液制作工作曲线,钨的分析线为209.475 nm,方法的线性范围为1.25%～15.00%,加标回收率在93.0%～99.0%之间,测定结果的RSD值（n=11）小于0.8%。

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郝文婷

宁夏东方钽业股份有限公司西北稀有金属材料研究院宁夏有限公司国家钽铌特种材料工程技术研究中心

关键词：发射光谱法;钨;钽钨合金;