30 mm厚TA1电子束焊接头疲劳断裂原因分析

来源期刊：钢铁钒钛2020年第1期

论文作者：白威 李大东

文章页码：59 - 133

关键词：TA1;焊接;电子束;组织;性能;疲劳断裂;

摘    要：为探究30 mm板厚TA1电子束焊接头发生疲劳断裂的原因,针对接头开展疲劳试验,获得了接头S-N曲线及条件疲劳极限。针对TA1接头开展宏观、微观组织及力学性能检验,结合对典型低寿命接头的疲劳试样断口分析,获得了接头断裂特征。结果表明:电子束焊接过程使TA1焊缝及热影响区得到强化,整个接头无明显软化区。TA1电子束焊接头S-N曲线数据符合线性拟合规律,其拟合的疲劳极限值163 MPa,为接头抗拉强度的48.7%,接头疲劳强度符合金属材料结构件疲劳设计的一般规律。焊缝内部"微米级"焊接气孔的存在是导致接头发生疲劳断裂的主要原因,部分接头则是因焊接夹渣导致疲劳断裂。