纯氧化镨中14个稀土元素杂质的光谱测定
来源期刊:分析试验室1986年第6期
论文作者:马志诚 夏夜霓 张英珊
文章页码:24 - 27
摘 要:本文采用氧-氩气氛法光谱测定纯氧化镨中14个稀土元素杂质。在3.4米平面光栅摄谱仪负Ⅱ级(色散1.25埃/毫米)摄谱。对缓冲剂及相关分析条件进行了试验,选择了最佳条件,提高了测定稀土元素杂质的灵敏度,测定下限总和为285ppm。各个杂质的测定下限Y2O3、Er2O3、La2O3、Ho2O3、Gd2O3、Dy2O3和Sm2O3为10ppm;CeO2、Nd2O3、Tb4O7和Lu2O3为50ppm;Tm2O3和Yb2O3为5ppm。准确度符合要求,变异系数13个杂质为4—18%,Tm2O3为6—24%。方法测定下限均低于国内外已发表的同类方法。本法适用于杂质含量大于285ppm的氧化镨的直接光谱测定。
马志诚,夏夜霓,张英珊
摘 要:本文采用氧-氩气氛法光谱测定纯氧化镨中14个稀土元素杂质。在3.4米平面光栅摄谱仪负Ⅱ级(色散1.25埃/毫米)摄谱。对缓冲剂及相关分析条件进行了试验,选择了最佳条件,提高了测定稀土元素杂质的灵敏度,测定下限总和为285ppm。各个杂质的测定下限Y2O3、Er2O3、La2O3、Ho2O3、Gd2O3、Dy2O3和Sm2O3为10ppm;CeO2、Nd2O3、Tb4O7和Lu2O3为50ppm;Tm2O3和Yb2O3为5ppm。准确度符合要求,变异系数13个杂质为4—18%,Tm2O3为6—24%。方法测定下限均低于国内外已发表的同类方法。本法适用于杂质含量大于285ppm的氧化镨的直接光谱测定。
关键词: