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全自动在片直流测试技术对提高GaAs MMIC批量生产成品率的作用

来源期刊：功能材料与器件学报2000年第4期

论文作者：陈新宇郝西萍吴振海蒋幼泉

关键词：成品率; 在片测试; GaAs MMIC;

摘要：成品率高低是批量生产能否进行的关键.采用全自动在片直流测试,对参数进行统计分析,能判断成品率是否正常,并帮助找出影响成品率的原因.本文介绍了行之有效的测试统计和分析技术.

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陈新宇¹，郝西萍¹，吴振海¹，蒋幼泉¹

(1.南京电子器件研究所,南京,210016)

摘要:成品率高低是批量生产能否进行的关键.采用全自动在片直流测试,对参数进行统计分析,能判断成品率是否正常,并帮助找出影响成品率的原因.本文介绍了行之有效的测试统计和分析技术.

关键词:成品率; 在片测试; GaAs MMIC;

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