基于中心距像素标定的工业CT尺寸测量方法

来源期刊：兵器材料科学与工程2017年第5期

论文作者：齐子诚 倪培君 沈建云 郭智敏 唐盛明

文章页码：122 - 126

关键词：工业CT;尺寸测量;半高宽法;评估;

摘    要：针对工业CT尺寸测量过程受影响因素较多、测量精度稳定性差的实际问题,设计一种基于中心距像素标定的工业CT尺寸精确测量方法。测定CT图像不同区域内的噪声方差等级分析噪声分布规律,提出双线测量方法对CT像素尺寸进行数值标定计算,获得不同中心距与像素尺寸的对应关系曲线,根据测量长度经过的图像中像素尺寸变化进行累计计算,获得实际长度值。利用6 Me V线阵探测器高能工业CT系统,对标准量块进行尺寸测量试验。结果表明,相比于传统"半高宽法",本实验方法在尺寸测量精度和稳定性上均有较大提高,从而为提升工业CT在尺寸测量水平提供新的方法和技术途径。