在中等色散摄谱仪上测定金属钴中镉

来源期刊：分析试验室1984年第6期

论文作者：胡敦瑜

文章页码：54 - 55

摘    要：<正> 本文采用盖帽电极,由于帽盖的作用抑制了钴的谱线,适宜用中等色散摄谱仪测定金属钴中镉。以铋为内标元素,具有稳定和控制弧焰的作用,镉与铋的激发电位接近,蒸发曲线相似,分析线对采用Cd2288.02埃/Bi2228.02埃。激发电流提高至12安,可使工作曲线斜率提高,测定下限得到改善。砷在前10秒钟预燃时已蒸发除去,故As2288.12埃不干扰。测定范围:0.0001-0.0080％。仪器及工作条件 PGS-2型平面光栅摄谱仪,刻线密度为650线/毫米,采用Ⅰ级光谱,三透镜照明系统,中间光栏5毫米孔高,狭缝宽度6微米;MB-105型测微光度计,狭缝宽度1.5微米、高12毫米,用S标