EBSD在超细硬质合金WC晶粒尺寸统计中的应用
来源期刊：粉末冶金材料科学与工程2015年第2期
论文作者：李园园 徐银超 林江华 左锐 于涛 温光华 陈响明
文章页码：162 - 167
关键词：超细WC晶粒统计;EBSD;X射线衍射;SEM图像分析法;经验公式法;
摘 要：硬质合金中WC晶粒度的统计随其尺寸的降低,难度大幅升高。本文作者在多次实验的基础上,成功地将电子背散射衍射（EBSD）技术应用于超细WC-Co硬质合金WC晶粒尺寸统计。以样品A合金（晶粒度约0.20.4μm）为例,应用EBSD统计其平均晶粒尺寸为0.36μm的同时,还与其他晶粒度统计方法进行对比分析。另外,取样品B（晶粒度约0.10.3μm）,经两种不同的烧结工艺烧结后分别进行EBSD分析,对比分析烧结温度对超细WC晶粒长大的影响。
李园园1,2，徐银超1,3，林江华1,2，左锐1,2，于涛1,2，温光华1,2，陈响明1,2
1. 株洲钻石切削刀具股份有限公司2. 硬质合金国家重点实验室3. 中南大学粉末冶金国家重点实验室
摘 要：硬质合金中WC晶粒度的统计随其尺寸的降低,难度大幅升高。本文作者在多次实验的基础上,成功地将电子背散射衍射（EBSD）技术应用于超细WC-Co硬质合金WC晶粒尺寸统计。以样品A合金（晶粒度约0.20.4μm）为例,应用EBSD统计其平均晶粒尺寸为0.36μm的同时,还与其他晶粒度统计方法进行对比分析。另外,取样品B（晶粒度约0.10.3μm）,经两种不同的烧结工艺烧结后分别进行EBSD分析,对比分析烧结温度对超细WC晶粒长大的影响。
关键词：超细WC晶粒统计;EBSD;X射线衍射;SEM图像分析法;经验公式法;
