Au与p-CZT晶体的接触特性及其CZT表面处理状态的影响
来源期刊：功能材料2006年第4期
论文作者：汪晓芹 介万奇 李强 查钢强 杨戈 傅莉
关键词：Schottky接触; 钝化; I-V特性;
摘 要：对不同腐蚀、钝化表面处理的CZT晶片与Au接触的I-V特性进行了研究.用XPS分析了钝化前后CZT晶体表面成分,发现钝化后CZT晶片表面形成厚度为3.1nm的TeO2氧化层.用Agilent 4339B高阻仪进行未腐蚀、腐蚀与腐蚀钝化的CZT晶片I-V特性测试,结果表明腐蚀和腐蚀钝化均能不同程度提高Au/p-CZT接触的势垒高度,相应地减小了漏电流.
