AlSi中间合金中Si的光电光谱分析法
来源期刊：轻金属1999年第11期
论文作者：庞淑萍
文章页码：56 - 58
关键词：标样;标准化控样;铝硅中间合金;硅含量;光电光谱分析;
摘 要：Ａｌ Ｓｉ 中间合金中Ｓｉ 的分析一般用化学容量法，此法操作过程繁琐，消耗大量的人力、物力，且分析时间长。Ａｌ Ｓｉ 间合金中Ｓｉ 的光电光谱分析方法突破了高硅化学法分析的常规。试验中解决了标样、日常标准化控样两大难题，确定了适宜的分析条件，分析结果达到了化学分析的准确度。Ｓｉ 的绝对误差为±１－５ ％ ，相对误差为６％ ，完全能满足生产要求。
庞淑萍
东北轻合金有限责任公司!黑龙江哈尔滨150060
摘 要：Ａｌ Ｓｉ 中间合金中Ｓｉ 的分析一般用化学容量法，此法操作过程繁琐，消耗大量的人力、物力，且分析时间长。Ａｌ Ｓｉ 间合金中Ｓｉ 的光电光谱分析方法突破了高硅化学法分析的常规。试验中解决了标样、日常标准化控样两大难题，确定了适宜的分析条件，分析结果达到了化学分析的准确度。Ｓｉ 的绝对误差为±１－５ ％ ，相对误差为６％ ，完全能满足生产要求。
关键词：标样;标准化控样;铝硅中间合金;硅含量;光电光谱分析;
