DOI:10.19476/j.ysxb.1004.0609.2004.s1.065
掺杂硅纳米线的光电特性
湖南大学材料科学与工程学院
湖南大学材料科学与工程学院 长沙410082
摘 要:
采用激光烧蚀法制备了磷掺杂硅纳米线和硼掺杂硅纳米链, 并运用透射电子显微镜 (TEM) 、近边X射线吸收精细结构光谱 (NEXAFS) 、X射线光电子能谱 (XPS) 及场发射 (FE) 测量等对其进行了研究。结果表明:硅纳米线包覆在二氧化硅层中及其核心由磷掺杂的晶体硅构成, 磷不仅存在于硅纳米线的核心内, 也存在于二氧化硅与硅核心的相界面上;硼掺杂硅纳米链的外部直径约为15nm, 由直径11nm的晶核和2nm的无定形氧化物外层构成的晶格所组成, 其粒间距为4nm, 硅纳米粒子链的阀值场强为6V/μm, 优于未掺杂的硅纳米线的阀值场强 (9V/μm) 。X射线光吸收谱可以补充提供常规电流 电压测量得不到的信息, 并提示掺杂分布的细节。
关键词:
中图分类号: TB383
基金:香港研究基金委员会及加拿大国家科学与工程研究委员会 (NSERC) 资助项目 (9040637);美国国家科学基金 (NSF) 资助项目 (DMR 0084402);
Optoelectronic characteristics of doped Si nanowires
Abstract:
Phosphorus-doped silicon nanowire (P-SiNW) and boron-doped silicon nanoparticle chain (B-SiNC) synthesized by using laser ablation method were investigated by transmission electron microscopy (TEM) , high resolution transmission electron microscopy (HRTEM) , near edge X-ray absorption fine structure spectroscopy (NEXAFS) , X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) and field emission measurement etc. The results show that the nanowires are encapsulated within a silica layer and that the cores of the nanowires are crystalline silicon doped with phosphorus. Phosphorus is found to be inside the core of the Si wire and at the interface of silica outerlayer and silicon core. TEM and HRTEM show that the outer diameters of the nanoparticles are around 15 nm and the nanoparticles have perfect lattices with 11 nm crystalline core and 2 nm amorphous silica outerlayer while the distance of the interparticles is 4 nm. Field-emission measurement show that the turn-on field of B-SiNC is 6 V/μm, which is much lower than that of undoped Si nanowires (9 V/μm) . And X-ray absorbtion spectroscopy can also provide complementary information to the common current-voltage measurement and detail information of the doped distribution, simultaneously.
Keyword:
silicon nanowire; silicon nanoparticle chain; doping; optoelectronic characteristic;
自从1998年硅纳米线首次实现了大量制备以来
目前的硅基微电子集成电路技术将很快达到自身的物理极限
Tang等
作者主要研究讨论了磷掺杂硅纳米线 (P-SiNWs) 和硼掺杂硅纳米链 (B-SiNCs) 的X射线光电子能谱、场发射测量及X射线吸收谱的结果, 并以此来研究掺杂硅纳米线的化学键与电子结构。
1 实验
采用激光烧蚀法制备了P-SiNWs与B-SiNCs
2 分析与讨论
2.1 磷掺杂硅纳米线 (P-SiNWs)
图1所示为P-SiNWs的TEM照片。 从图中可看出, P-SiNWs的平均直径约为16nm, 且直径较一致, 表面光滑干净, 大多数呈直线状或具有较平滑的弯曲, 因此, P-SiNWs的形貌与以前报道的未掺杂SiNWs的形貌基本上一致
图1 P-SiNWs沿[112]方向的典型 生长方向 (TEM图像)
图2 磷掺杂硅纳米线高分辨TEM照片
因为TEY收集的为电子信号, 是从样品表面发出的, 而FLY收集的是声子信号, 是从样品内部发出的。 因此, 通过NEXAFS的探测深度研究
图3 (a) ~ (d) 分别为样品经过1%的HF腐蚀5 min和5%的HF腐蚀5 min的Si和P的 K 边NEXAFS光谱。 在1 847 eV时, 随着腐蚀的增强, 硅氧化物TEY和FLY光谱峰的强度明显减弱, 且表面氧化物很容易被HF腐蚀掉, 同时在1 840 eV时出现了Si峰, 并且Si特征峰渐渐变强。 在进行足够的腐蚀 (5%的HF腐蚀5 min) 后, Si-O特征峰几乎完全消失, 仅留晶体Si特征峰。 与硅晶片的光谱相比较, P-SiNWs除了在更高能量状态下的振幅轻微减弱外, 整体谱与同硅晶片有相同的振动方式。 图4所示为更高的k值光谱在k空间分布图。 该图表明P-SiNWs核内的晶体硅结构与硅晶片基本相似, 但P-SiNWS核内的晶体硅结构的平均原子间距稍微大一些, 也就是说在SiK边光谱中观察到了材料的局部结构轻微膨胀, 这是由于体积大的磷原子的替代硅原子而引起的。
图3 HF腐蚀后的K边 NEXAFS的TEY和FLY光谱 (a) —Si K边TEY光谱; (b) —Si K 边FLY光谱; (c) —P K边TEY 光谱; (d) —P K边FLY光谱
图4 HF腐蚀的P-SiNWs和硅晶片的Si K边 NEXAFS光谱对比
表面氧化层在腐蚀后P的K边 NEXAFS光谱的信号方显示出来。 图3 (c) 的TEY和图3 (d) 的FLY P的 K边光谱清楚地显示了很强的边缘跃迁以及在2 145 eV和2 153 eV时的2个锐利共振 (以2 144 eV时的红磷白线为参考标准线) 。 对图3 (a) 中HF处理后的样品Si的K边TEY光谱和图3 (c) 中HF处理后的样品P的K边FLY光谱进行对比研究后表明, 如果不考虑2 153 eV时的波峰, 2个光谱在一定程度上有相似的振动, 也可以定性地说明P-SiNWs中的磷替占据纳米硅线中的某些四面体位。 由于Si在2 153 eV时的能量与磷氧化物的能量相同, 故这个波峰为氧化物外层与晶体硅核分界面上的P2O5-SiO2波峰。 这种解释与硅氧化物被腐蚀掉后的TEY和FLY光谱的磷氧化物峰强减弱的现象是一致的。
2.2 硼掺杂硅纳米链 (B-SiNCs)
图5所示为B-SiNCs的一般形貌 (观察在Philips CM20电镜上进行, 工作电压为200 kV) 。 由图5可看出硅纳米链与珍珠链相似, 且纳米粒子与无定形硅氧化物连接在一起。 B-SiNCs包含“结”与“颈”两部分, 且结与结的距离基本上相同, “结”与“颈”的平均直径分别为15 nm和4 nm。 整个样品的分布较均匀, 基本上没有混杂孤立的纳米粒子。 样品中含有95%以上的B-SiNCs, 其余均为共存的硅纳米线。 用透射电镜 (TEM) 上的能谱仪 (EDS) 分析后证实硅纳米链主要由硅与氧两种元素组成。 图5右上角的插图为B-SiNCs的选区电子衍射 (SEAD) 图像, 此衍射环与具有金刚石结构的硅 (111) 面、 (220) 面和 (311) 面的衍射环相吻合。
图5 硼掺杂硅纳米链的TEM照片
用高分辨透射电子显微镜 (HRTEM) 较深入地研究了B-SiNCs的显微结构 (图6) , 并进一步证明了硅纳米链是由无定形氧化物将硅纳米粒子连接在一起的。 由图可看出B-SiNCs是由直径为11 nm的晶核和2nm的无定形氧化物外层构成的晶格所组成, 其粒间距为4 nm。
图6 硼掺杂硅纳米链高分辨TEM照片
采用文献
图7 不同电极与样品距离的硅纳米链的 电流与电场特性及其FN曲线
用XPS测定了元素硼1s轨道的化学偏移量来研究B-SiNCs中硼原子是否已掺杂在硅纳米晶中。 图8所示为B-SiNCs经过不同处理后的硼元素1 s轨道跃迁光谱。 曲线 (a) ~ (c) 都存在2个明显的波峰, 在193.8 eV和188.5 eV两个位置存在两个强度最大的波峰 (即峰1和峰2) , 峰1、峰2分别为硼氧化物 (B-O键) 及硼化物 (包括B-Si键) 相应的波峰
随着HF腐蚀时间的增加, 峰1 (B-O键) 的强度有所减弱, 而峰2 (Si-B键、B-B键) 的强度明显增强, 证实了B原子掺杂在了Si核内, 而B-SiNCs经过2 keV的Ar离子处理200 s后的光谱进一步证实了这一点。
目前的研究结果表明, 在激光烧蚀靶上添加硼氧化物源会出现以下现象: 1) B-SiNCs的可控性生长; 2) B原子扩散进入了纳米链的Si核中。 B-SiNCs比传统光滑的、未掺杂的硅纳米线具有更好的场发射特性, 其原因可能为: 1) 经过B掺杂后改变了纳米硅晶本身的场发射性能; 2) 可能是纳米粒子的形态引起了场发射强度的增强。 而实际上, 由导电性纳米粒子与绝缘性纳米粒子交替组成的纳米链状结构与Carey所报道的系统有一定的相似性
图8 B1s轨道的XPS光谱 (a) —未经过处理的B-SiNCs; (b) —HF酸腐蚀后的B-SiNCs; (c) —HF腐蚀及Ar3+溅射处理后的B-SiNCs
3 结论
1) 应用NEXAFS研究了P-SiNWs的电子结构和化学键, 同时进行了TEY和FLY光谱测试, 提供了掺杂分布的细节并证实了磷元素不仅掺杂于硅纳米线的核心内, 也存在于核心与外层的相界面上。 并为计算P-SiNWs的磷掺杂度并进行I-V测量
2) 采用激光烧蚀SiO和B2O3 (1%) 混合粉末在1 200 ℃合成了大量的一维B-SiNCs, 并研究了材料的显微结构与场发射性能。 TEM分析表明, B-SiNCs由导体-绝缘体交替组成的一维纳米链所构成, 这些一维纳米链有很强的场发射性能, 是单电子晶体管存储器等器件的潜在应用材料。
总之, X射线光吸收谱可以补充提供常规电流-电压测量得不到的信息, 并提示掺杂分布的细节, 且场发射测量证明了掺杂的硅纳米线具有更好的场发射特性。
参考文献
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