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-SEM)的In-lens探头及低电压模式,分析Mg2Si沉淀相的析出情况及其表面形貌.结果表明:在低电压模式及In-lens探头双重条件下,可获得较好分辨率的Mg2Si沉淀相表面立体显微形貌;通过透射电子显微镜衍射分析发现在扫描电子显微镜中观察到的相确实为Mg2Si沉淀相.这种分析方法能够清晰观察到Mg2Si沉淀相的普遍析出情况. 关键词:Al-Si-Mg合金;Al-Mg-Si合金;Mg2Si沉淀相;FE-SEM;In-lens探头 中图分类号:TG 146.2 文献标识码: A Analysis of Mg2Si precipitates in Al-Si-Mg and Al-Mg-Si alloys by FE-SEM LI Jian-guo, TAN Hong-yan, SHI Zi......