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氧化锌中微量锑的直接光度法测定吴心传,张殿英,周志海,张永亚中南矿冶学院化学系摘 要:<正> 微量锑的测定多数采用萃取比色法,氧化锌中微量锑的测定,以往也是采用萃取比色法.这些方法灵敏度较高,有一定的选择性,但是要用有机溶剂,有刺激性气味,操作也繁琐.最近也有在水相中直接测定的报导.本文试验了锑-水扬基萤光酮(SAF)-溴化十六烷基吡啶(CPB)三元体系的胶束增溶法测定锑.结果表明,当溶液pH为1.2-2.2时,络合物最大吸收波长为520nm,其组成比Sb:SAF:CPB为1:3:3,表观摩尔吸......
高纯氧化铒中微量非稀土元素的光谱测定李全福,谷虹北京有色金属研究总院九江有色金属冶炼厂摘 要:<正> 关于高纯氧化铒中微量非稀土元素光谱测定,目前国内还未见报导,国外已有采用载体分馏法测定氧化铒中铁,钙,锰,镍,钴,铬,铜和硅等8个非稀土元素的报导,测定下限为0.2-76ppm.载体分馏法具有检出限较低,操作简便,经济等优点.本试验采用正交设计选择了最佳分析条件,确定:氯化钠与试样按5:95研匀,称取50毫克装入孔径4毫米,孔深7毫米的石墨杯型电极孔穴中作阳极,用12安直流电弧激发.一次摄谱完成......
钙锌基缓冲剂在二氧化钛光谱分析中的应用陶长嘉,余柔嘉无锡叶片厂摘 要:<正> 在发射光谱分析中,钙锶钡盐类常用作缓冲剂,但应用于二氧化钛光谱分析并不多见.本文在锶锌基缓冲剂应用的基础上,研究了碳酸钙,氧化锌,氟化钠组成的混合缓冲剂测定二氧化钛中多种杂质元素的方法.本法可用中型或光栅摄谱仪,将试样直接压入电极中即可摄谱.能同时测定银,砷,铝,硼,铍,关键词:......
纯氧化钕中14个稀土元素的光谱测定庄永泉包头冶金研究所摘 要:<正> 在轻稀土元素中,钕的应用较为广泛.在光谱分析中普遍应用氩-氧控制气氛直流电弧粉末法测定稀土元素氧化物中稀土元素杂质.测定下限比一般直流电弧法改善1-2个数量级,手续相对比化学光谱法简便.本文采用碳粉为缓冲剂,大色散光谱仪,一次摄谱测定14个稀土元素.测定下限达0.00x-0.0x%,部份元素可达0.000x%;变异系数为4.5-25%.与国外同类仪器所测水平相当.仪器及工作条件GE-340型平面光栅摄谱仪,三透镜照明系统,波段......
发光光谱分析法测定氧化钇中微量铕王富芝,蒋昌武,何喜庆武汉大学化学系摘 要:本文报道了用发光光谱分析法测定三氧化二钇中微量铕,本方法采用的基质是三氧化二钇,并与硫氧化钇作基质的方法作了对比,两者的结果相近,但三氧化二钇基质法比硫氧化钇基质法有使用试剂种类少,操作简单的优点.文中还进行了荧光体的合成条件;发光光谱分析线的选择;激发条件选择以及共存元素的影响和试样分析结果的讨论.关键词:......
高纯氧化镨中14个稀土元素的化学光谱分析王大震,马志诚,郝丽霞,夏夜霓,张英珊摘 要:本文采用CL-P507萃淋树脂色谱法进行高纯氧化镨中稀土杂质元素的分离浓缩,浓缩倍数为1000倍,浓缩物用碳粉吸附法进行光谱测定.测定下限为∑RE9ppm,变异系数为5-26%.化学分离周期约16小时.可用于纯度为5个9的氧化镨中14个稀土杂质元素的测定.关键词:......
纯氧化镨中14个稀土元素杂质的光谱测定马志诚,夏夜霓,张英珊摘 要:本文采用氧-氩气氛法光谱测定纯氧化镨中14个稀土元素杂质.在3.4米平面光栅摄谱仪负Ⅱ级(色散1.25埃/毫米)摄谱.对缓冲剂及相关分析条件进行了试验,选择了最佳条件,提高了测定稀土元素杂质的灵敏度,测定下限总和为285ppm.各个杂质的测定下限Y2O3,Er2O3,La2O3,Ho2O3,Gd2O3,Dy2O3和Sm2O3为10ppm;CeO2,Nd2O3,Tb4O7和Lu2O3为50ppm;Tm2O3和Yb2O3为5ppm.准确度符合要......
高纯氧化铈中稀土元素杂质的测定郭玉书,费声瑚冶金部包头稀土研究院摘 要:使用特效萃取剂P538分离氧化铈,用JY38P型等离子光谱仪进行稀土元素杂质的测定,杂质总量的测定下限为3.6ppm.研究了输出功率,分离效率及非稀土杂质对测定的影响.方法精密度为12%相对误差小于15%关键词:......
纯氧化钆中微量稀土杂质元素的光谱测定宋文仲,金岩,孟淑兰,张淑英中国科学院长春应用化学研究所摘 要:本文采用交流电弧高浓度溶液干渣法测定纯氧化钆中14个稀土杂质元素.试样在氩/氧气氛中激发,直接光谱测定.方法相对标准偏差不大于5%.方法简单,经加入回收试验和大量实际试样的分析获得满意结果.关键词:......
氧化钽中硅等11元素的光谱分析何以联广西栗木锡矿稀冶厂化验室摘 要:<正> 目前本矿氧化钽中杂质的分析是以硅为内标元素的光谱分析法.此法一方面未能较好地补偿由于氧化钽本身所含杂质硅所造成的分析误差;另一方面,对主要杂质硅的分析需要用难度较大的化学分析法进行测定(主要是难于溶解试样和环境灰尘的影响).为此,在原有基础上增加硅等几个元素的光谱测定,并重新选择了内标元素,经试验,硅的测定下限可达30ppm,另外增加的铅等三个元素的分析,均可满足用户对产品的要求.本方法选择了光谱分析载体,内标元素,研究......