材料科学研究中电子显微学的成功应用(续)
来源期刊：理化检验物理分册2001年第2期
论文作者：棍原節夫
摘 要： 3 高分辨电子显微技术在纳米结构研究中的应用在叙述高分辨电子显微技术(HREM)应用的若干具体例子之前,首先指出常规电子显微技术(CVEM)与HREM之间最基本的区别在于CVEM 只用一个电子束(直接透射束或者衍射束)成象,而HREM允许使用包括直接透射束在内的许多衍射束穿过物镜光阑成象.图15简要地表示了使用CVEM明场(a)、暗场(b)成象以及HREM成象(c)方式.
棍原節夫1
(1.日本金属材料技术研究所,)
摘要: 3 高分辨电子显微技术在纳米结构研究中的应用在叙述高分辨电子显微技术(HREM)应用的若干具体例子之前,首先指出常规电子显微技术(CVEM)与HREM之间最基本的区别在于CVEM 只用一个电子束(直接透射束或者衍射束)成象,而HREM允许使用包括直接透射束在内的许多衍射束穿过物镜光阑成象.图15简要地表示了使用CVEM明场(a)、暗场(b)成象以及HREM成象(c)方式.
【全文内容正在添加中】
