直流电弧原子发射光谱法测定铌、钽中硅含量

来源期刊：理化检验-化学分册2015年第6期

论文作者：马晓敏 王辉 李波 孙宝莲 梁清华 郑伟 王宽

文章页码：859 - 861

关键词：直流电弧原子发射光谱法;硅;铌;钽;

摘    要：通过直流电弧原子发射光谱仪,配备固体多道光学检测器-电感耦合器件,建立了直流电弧原子发射光谱法测定铌、钽中硅含量的方法。硅的分析线为288.160 nm,铌中硅的缓冲剂为碳粉和氯化银,钽中硅的缓冲剂为碳粉。硅的质量分数在0.001%⁰.100%范围内与其光谱强度呈线性关系,相关系数均在0.999 6以上。加标回收率在97.7%¹03%之间,测定值的相对标准偏差（n=7）均小于8%。