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聚酰亚胺薄膜绕包铜扁线耐电晕性能的研究

来源期刊：绝缘材料2014年第1期

论文作者：刘佳音唐文进周升杨名波陈琛

文章页码：63 - 65

关键词：电磁线;烧结工艺;耐电晕性能;

摘要：通过对聚酰亚胺薄膜绕包铜扁线的工艺研究,分析了聚酰亚胺薄膜绕包铜扁线的耐电晕性能。结果表明:影响聚酰亚胺薄膜绕包铜扁线耐电晕性能的主要因素为烧结温度、绕包张力和红外辐射炉温度。当烧结温度为230℃,绕包张力为8 N,红外辐射炉温度为450℃时,聚酰亚胺薄膜绕包铜扁线的耐电晕性能最佳。

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刘佳音，唐文进，周升，杨名波，陈琛

株洲时代新材料科技股份有限公司

关键词：电磁线;烧结工艺;耐电晕性能;