聚酰亚胺薄膜绕包铜扁线耐电晕性能的研究
来源期刊：绝缘材料2014年第1期
论文作者：刘佳音 唐文进 周升 杨名波 陈琛
文章页码：63 - 65
关键词：电磁线;烧结工艺;耐电晕性能;
摘 要：通过对聚酰亚胺薄膜绕包铜扁线的工艺研究,分析了聚酰亚胺薄膜绕包铜扁线的耐电晕性能。结果表明:影响聚酰亚胺薄膜绕包铜扁线耐电晕性能的主要因素为烧结温度、绕包张力和红外辐射炉温度。当烧结温度为230℃,绕包张力为8 N,红外辐射炉温度为450℃时,聚酰亚胺薄膜绕包铜扁线的耐电晕性能最佳。
刘佳音，唐文进，周升，杨名波，陈琛
株洲时代新材料科技股份有限公司
摘 要：通过对聚酰亚胺薄膜绕包铜扁线的工艺研究,分析了聚酰亚胺薄膜绕包铜扁线的耐电晕性能。结果表明:影响聚酰亚胺薄膜绕包铜扁线耐电晕性能的主要因素为烧结温度、绕包张力和红外辐射炉温度。当烧结温度为230℃,绕包张力为8 N,红外辐射炉温度为450℃时,聚酰亚胺薄膜绕包铜扁线的耐电晕性能最佳。
关键词：电磁线;烧结工艺;耐电晕性能;
