纳米尺度铁电畴的扫描力显微镜成像研究进展
来源期刊：无机材料学报2002年第6期
论文作者：曾华荣 殷庆瑞 惠森兴 李国荣 方健文
关键词：纳米尺度; 铁电畴; 扫描力显微镜;
摘 要：扫描力显微镜(SFM)作为一种新型的超分辨率近场扫描探针显微仪器正日益受到各学科领域的高度重视.在铁电材料领域,SFM是开展纳米尺度铁电畴结构成像、纳米尺度畴结构控制及纳米尺度微区的铁电性、介电性、压电性等特性研究的潜在的强有力的研究工具.本文就纳米尺度铁电畴的扫描力显微镜的成像原理的研究进展作一综述.
曾华荣1，殷庆瑞1，惠森兴1，李国荣1，方健文1
(1.中国科学院上海硅酸盐研究所高性能陶瓷与超微结构国家重点实验室,上海,200050)
摘要:扫描力显微镜(SFM)作为一种新型的超分辨率近场扫描探针显微仪器正日益受到各学科领域的高度重视.在铁电材料领域,SFM是开展纳米尺度铁电畴结构成像、纳米尺度畴结构控制及纳米尺度微区的铁电性、介电性、压电性等特性研究的潜在的强有力的研究工具.本文就纳米尺度铁电畴的扫描力显微镜的成像原理的研究进展作一综述.
关键词:纳米尺度; 铁电畴; 扫描力显微镜;
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