多孔硅的表面吸附性能的研究

来源期刊：功能材料2012年第21期

论文作者：胡小华 施琼玲 魏锡文 黎学明

文章页码：3006 - 3009

关键词：多孔硅;吸附;爆炸;

摘    要：通过量子化学的DFT方法,采用模型化学方法和Gaussion 03程序,计算了由不同数目硅原子组成的模型分别吸附某几种氢原子、氧原子、硝酸根的模型和多孔硅表面可能存在的SiHx类物质自由基或分子碎片的红外光谱进行了计算,考察了各模型吸附前后的电荷集居数和红外振动光谱,计算结果表明多孔硅表面吸附氢原子、氧原子以及硝酸根可以削弱相关Si—Si键,导致硅氢氧化合物出现,从而氧化或断裂生成Si—H或Si—O一类分子碎片而引起爆炸。