硅基正六边形氮化镓纳米颗粒薄膜的制备,结构和形貌特性
来源期刊：功能材料与器件学报2008年第3期
论文作者：庄惠照 薛成山 张晓凯 薛守斌 胡丽君 滕树云
关键词：氨化法; 氮化镓薄膜; 氧化镓薄膜; 正六边形结构晶粒; ammoniate; GaN films; Ga2O3 films; regular - hexagon - structural crystal;
摘 要：本文通过在ZnO/Si(111)衬底上,利用JCK-500A型射频磁控溅射系统溅射氧化镓靶得到氧化镓薄膜.然后将硅基Ga2O3置于管武石英炉中,在850℃的氨化温度下氨化15min后,成功制备出GaN薄膜,该薄膜由正六边形的晶粒组成.X射线衍射(XRD)表明GaN具有六方纤锌矿结构,晶格常数为a=0.318nm和c=0.518nm.X射线光电子能谱(XPS)的测试确定了样品中Ga-N键的形成,并且Ga和N的化学计量比为1:1.用扫描电镜(SEM)和原子力显微镜(AFM)观察发现,样品表面非常光滑和平整.透射电镜(TEM)表明薄膜由正六边形晶粒组成.选区电子衍射(SAED)进一步验证了GaN薄膜的六方纤锌矿结构.最后,简单地讨论了其生长机制.
庄惠照1，薛成山1，张晓凯1，薛守斌1，胡丽君1，滕树云1
(1.山东师范大学半导体研究所,济南,250014)
摘要:本文通过在ZnO/Si(111)衬底上,利用JCK-500A型射频磁控溅射系统溅射氧化镓靶得到氧化镓薄膜.然后将硅基Ga2O3置于管武石英炉中,在850℃的氨化温度下氨化15min后,成功制备出GaN薄膜,该薄膜由正六边形的晶粒组成.X射线衍射(XRD)表明GaN具有六方纤锌矿结构,晶格常数为a=0.318nm和c=0.518nm.X射线光电子能谱(XPS)的测试确定了样品中Ga-N键的形成,并且Ga和N的化学计量比为1:1.用扫描电镜(SEM)和原子力显微镜(AFM)观察发现,样品表面非常光滑和平整.透射电镜(TEM)表明薄膜由正六边形晶粒组成.选区电子衍射(SAED)进一步验证了GaN薄膜的六方纤锌矿结构.最后,简单地讨论了其生长机制.
关键词:氨化法; 氮化镓薄膜; 氧化镓薄膜; 正六边形结构晶粒; ammoniate; GaN films; Ga2O3 films; regular - hexagon - structural crystal;
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