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X射线荧光光谱法测定工业硅中十二种杂质元素

来源期刊：云南冶金2016年第2期

论文作者：刘英波杨毅杨海岸杨谅孚罗舜

文章页码：132 - 136

关键词：X射线荧光光谱法;工业硅中杂质元素;准确度;精密度;

摘要：建立了X射线荧光光谱粉末压片法,可同时对工业硅样品中铁、铝、钙、锰、镍、钛、铜、磷、镁、铬、钒、钴十二种元素进行定量测定。工业硅样品中加入淀粉作黏结剂,以硼酸作垫衬剂压制成样片后,在选定的仪器分析条件下进行测定,该方法检测速度快,精度高,结果准确。

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刘英波，杨毅，杨海岸，杨谅孚，罗舜

昆明冶金研究院

关键词：X射线荧光光谱法;工业硅中杂质元素;准确度;精密度;