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V型缺口冲击试样尺寸公差因素的有限元分析

来源期刊:理化检验物理分册2014年第8期

论文作者:范立坤

文章页码:574 - 577

关键词:V型缺口冲击试样;尺寸公差;有限元分析;缺口敏感性;影响权重;

摘    要:对照GB/T 229-2007和ASTM E23-2012c(2014)对V型缺口冲击试样的加工要求,使用有限元模拟计算方法,分析了试样尺寸公差对试样缺口处应力的影响,并利用缺口处的应力评估了尺寸公差对缺口敏感性的影响权重。结果表明:缺口底部高度和缺口角度对试样缺口敏感性的影响权重最大;试样宽度和高度的影响次之,试样长度的影响最小;相比较,ASTM E23-2012c(2014)对V型缺口冲击试样加工尺寸公差的要求比GB/T 229-2007更为合理。

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V型缺口冲击试样尺寸公差因素的有限元分析

范立坤

上海材料研究所上海市工程材料应用评价重点实验室

摘 要:对照GB/T 229-2007和ASTM E23-2012c(2014)对V型缺口冲击试样的加工要求,使用有限元模拟计算方法,分析了试样尺寸公差对试样缺口处应力的影响,并利用缺口处的应力评估了尺寸公差对缺口敏感性的影响权重。结果表明:缺口底部高度和缺口角度对试样缺口敏感性的影响权重最大;试样宽度和高度的影响次之,试样长度的影响最小;相比较,ASTM E23-2012c(2014)对V型缺口冲击试样加工尺寸公差的要求比GB/T 229-2007更为合理。

关键词:V型缺口冲击试样;尺寸公差;有限元分析;缺口敏感性;影响权重;

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