X射线荧光光谱滤纸片法在合金分析中的应用——Nb-Ti和Ni-Re-Ta等合金成份的测定
来源期刊：分析试验室1983年第5期
论文作者：吴长存 郝贡章 李铭健 李明洁
文章页码：28 - 30
摘 要：<正> 所谓X射线荧光光谱滤纸片法,即试样溶解后分取少量溶液于固定面积的定量滤纸上制成薄样直接测定的方法。该方法能有效地消除基体效应,並且用人工合成标准样品,克服了化学法标定的困难,同时采用内标技术,既控制了制样误差又可消除仪器波动对测量的影
吴长存，郝贡章，李铭健，李明洁
摘 要：<正> 所谓X射线荧光光谱滤纸片法,即试样溶解后分取少量溶液于固定面积的定量滤纸上制成薄样直接测定的方法。该方法能有效地消除基体效应,並且用人工合成标准样品,克服了化学法标定的困难,同时采用内标技术,既控制了制样误差又可消除仪器波动对测量的影
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