X射线荧光光谱法测定化探样品中主、次和痕量组分
来源期刊：理化检验-化学分册2005年第8期
论文作者：李国会 张勤 樊守忠 潘宴山
关键词：X射线荧光光谱法; 化探样品; 背景; 谱线重叠校正; 粉末样品压片;
摘 要：采用粉末样品压片制样,用PW2440X射线荧光光谱仪对化探样品中氯、溴、硫、氧化钠、氧化镁、三氧化二铝、二氧化硅、磷、氧化钾、氧化钙、钛、锰、三氧化二铁、钴、铌、锆、钇、锶、铷、铅、钍、锌、铜、镍、钒、铬、钡、镧、铈、钕、钪、镓、砷、铪等34个组分进行测定.讨论了微量元素的背景选择和谱线重叠校正及氯测定的问题.使用经验系数法和康普顿散射线作内标校正基体效应,经标准物质检验,分析结果与标样值吻合,用GBW 07308国家一级标准物质作精密度试验,统计结果RSD(n=12)除砷、钒、镍、铜＜6.0%,溴、硫、铈、铪、钕、钪、氧化钠、镧、铬、钴和钍＜14.0%以外,其余各组分均小于3.0%.
李国会1，张勤1，樊守忠1，潘宴山1
(1.中国地质科学院,地球物理化学勘查技术研究所,河北,廊坊,065000)
摘要:采用粉末样品压片制样,用PW2440X射线荧光光谱仪对化探样品中氯、溴、硫、氧化钠、氧化镁、三氧化二铝、二氧化硅、磷、氧化钾、氧化钙、钛、锰、三氧化二铁、钴、铌、锆、钇、锶、铷、铅、钍、锌、铜、镍、钒、铬、钡、镧、铈、钕、钪、镓、砷、铪等34个组分进行测定.讨论了微量元素的背景选择和谱线重叠校正及氯测定的问题.使用经验系数法和康普顿散射线作内标校正基体效应,经标准物质检验,分析结果与标样值吻合,用GBW 07308国家一级标准物质作精密度试验,统计结果RSD(n=12)除砷、钒、镍、铜＜6.0%,溴、硫、铈、铪、钕、钪、氧化钠、镧、铬、钴和钍＜14.0%以外,其余各组分均小于3.0%.
关键词:X射线荧光光谱法; 化探样品; 背景; 谱线重叠校正; 粉末样品压片;
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