在铜镁合金表面制备MgO/Cu复合材料内氧化层的组织和性能
来源期刊:机械工程材料2015年第1期
论文作者:王庆福 张彦敏 国秀花 宋克兴
文章页码:58 - 62
关键词:MgO/Cu复合材料;内氧化法;导电率;硬度;
摘 要:采用内氧化法在铜镁合金表面制备了MgO/Cu复合材料内氧化层,研究了内氧化时间对内氧化层厚度、硬度、导电率的影响以及内氧化层的组织,并分析了铜镁合金的内氧化热力学。结果表明:随着内氧化时间延长,内氧化层的厚度和导电率均逐渐增加,硬度则先升后降;当内氧化时间为10h时,内氧化层的性能最佳,导电率为75.9%IACS,硬度为123.3HV;铜镁合金经内氧化后,固溶在铜基体内的镁以MgO的形式析出形成内氧化层,MgO颗粒弥散分布是内氧化层综合性能大幅提高的根本原因;铜镁合金内氧化热力学的临界氧分压,介于10-31 419/T+5.66和10-17 611/T+12.91之间。
王庆福1,张彦敏1,国秀花1,2,宋克兴1
1. 河南科技大学材料科学与工程学院,河南省有色金属材料科学与加工技术重点实验室,有色金属共性技术河南省协同创新中心2. 西安理工大学材料科学与工程学院
摘 要:采用内氧化法在铜镁合金表面制备了MgO/Cu复合材料内氧化层,研究了内氧化时间对内氧化层厚度、硬度、导电率的影响以及内氧化层的组织,并分析了铜镁合金的内氧化热力学。结果表明:随着内氧化时间延长,内氧化层的厚度和导电率均逐渐增加,硬度则先升后降;当内氧化时间为10h时,内氧化层的性能最佳,导电率为75.9%IACS,硬度为123.3HV;铜镁合金经内氧化后,固溶在铜基体内的镁以MgO的形式析出形成内氧化层,MgO颗粒弥散分布是内氧化层综合性能大幅提高的根本原因;铜镁合金内氧化热力学的临界氧分压,介于10-31 419/T+5.66和10-17 611/T+12.91之间。
关键词:MgO/Cu复合材料;内氧化法;导电率;硬度;