一种测定晶体取向及其分布的简便XRD方法

傅恒志¹，王宁²，郭振琪²，付涛³

(1.西北工业大学凝固技术国家重点实验室,西安,710072;
2.西北大学分析测试研究中心,西安,710069;
3.西安交通大学金属材料强度国家)

摘要:提出了旋转定向测试法,其原理是使试样在粉末X射线衍射仪上进行θ扫描的同时绕其端面法线自转,增加了晶面法线通过衍射平面的机会.通过这种方法可直观地区分取向多晶、准单晶或者单晶体,评定研制过程中准单晶和择优取向材料的晶体品质;确定单晶、准单晶及择优取向等材料的晶面相对宏观端面的晶向偏离角和取向分散度;还可对单晶体材料进行三维晶面定向.旋转定向法测试晶体取向具有快速简便、一机多用、精度高等优点,在电子、光学、磁性、机械等材料研究领域具有广泛的应用.

关键词:晶体材料; 晶体取向; X射线衍射;

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