集成电路芯片引脚外观自动检测系统的研究

来源期刊：机械设计与制造2010年第11期

论文作者：夏海波 邱自学 周一丹

文章页码：205 - 206

关键词：集成电路芯片;引脚外观;视觉检测;自动化;

摘    要：基于集成电路芯片引脚外观检测的需要,开发了自动检测系统。介绍了系统的组成、硬件结构、软件流程。该系统由芯片自动输送线、芯片拾取吸臂、机器视觉系统、良品与不良品分选臂、良品补给装置等组成,由工控机通过PLC控制技术,实现芯片上料、输送、外观检测、分选、卸料等的全自动化。该系统可检测芯片引脚在空间的11个尺寸参数,具有检测精度高、产品更换快速、操作简便等优点,适用于QFP封装集成电路芯片引脚外观的自动检测,可显著提高生产效率及产品质量。