双层锰氧化物薄膜中的应力效应
来源期刊：昆明理工大学学报(自然科学版)2002年第6期
论文作者：茶丽梅 H.U.Habermeier
文章页码：45 - 98
关键词：双层锰氧化物;薄膜;应力;
摘 要：双层钙钛矿结构的La2 - 2XSr1 +2XMn2 O7（X =0 .32 ）单相薄膜生长在具有不同晶格参数的两种衬底上 .测量发现 ,两种衬底上生长的La2 - 2XSr1 +2XMn2 O7（X =0 .32 ）薄膜具有迥然不同的金属-绝缘体转变温度TM -I及其他物性 .界面应力的研究表明这是衬底晶格常数不同引起膜内应变的结果 .在衬底的压应力下 ,薄膜的电阻—温度曲线的峰值 （TM -I）向高温移动且电阻率 （ ρ）下降 ;相反 ,对于衬底张应力下的薄膜 ,TM -I下降ρ上升 .这些结果可以用双交换模型做很好的解释 .
茶丽梅，H.U.Habermeier
摘 要：双层钙钛矿结构的La2 - 2XSr1 +2XMn2 O7（X =0 .32 ）单相薄膜生长在具有不同晶格参数的两种衬底上 .测量发现 ,两种衬底上生长的La2 - 2XSr1 +2XMn2 O7（X =0 .32 ）薄膜具有迥然不同的金属-绝缘体转变温度TM -I及其他物性 .界面应力的研究表明这是衬底晶格常数不同引起膜内应变的结果 .在衬底的压应力下 ,薄膜的电阻—温度曲线的峰值 （TM -I）向高温移动且电阻率 （ ρ）下降 ;相反 ,对于衬底张应力下的薄膜 ,TM -I下降ρ上升 .这些结果可以用双交换模型做很好的解释 .
关键词：双层锰氧化物;薄膜;应力;
